Analisis Elemen Genggam

Perangkat Analisis Elemen Genggam, seperti penganalisis fluoresensi sinar-X (XRF) portabel dan spektroskopi kerusakan yang diinduksi laser (LIBS), dirancang untuk pengujian elemen logam dan paduan yang cepat dan non-destruktif di lapangan atau di lantai bengkel. Alat-alat ini menawarkan wawasan instan tentang komposisi material, memungkinkan teknisi dan insinyur untuk melakukan Identifikasi Material Positif (PMI), kontrol kualitas, verifikasi paduan, dan penyortiran barang bekas dengan antarmuka point-and-shoot yang sederhana.