Main

Analyse des métaux Spectromètres d’émission optique à étincelle de paillasse / bureau (OES)

S5 Solaris Plus

Numéro de Pièce: S5

Le S5 Solaris Plus est un spectromètre d’émission optique de bureau haute performance (OES) conçu pour une analyse précise et efficace d’un large éventail d’alliages métalliques. Il combine excitation par étincelle et technologie de détection CMOS/CCD à spectre complet, offrant des résultats précis sur plusieurs matrices, y compris acier, aluminium, cuivre et alliages spéciaux. Conçu pour les environnements industriels, il excelle dans l’identification rapide des alliages, la détection de traces au niveau ppm et l’intégration fiable en laboratoire.

                                                
                                                    Compatibilité des alliages multi-matrices                                                
                                            
                                                Analysez les alliages ferreux et non ferreux avec une détection d'éléments rapide et fiable.

                                                
                                                    Détection à spectre complet                                                
                                            
                                                Équipé de systèmes CCD/CMOS haute résolution et d'optiques optimisées pour la durabilité, la vitesse et la précision.

                                                
                                                    Excitation rapide par étincelle                                                
                                            
                                                Fournit des cycles d'analyse rapides avec une répétabilité élevée dans les plages ppm et pourcentage.

                                                
                                                    Chambre purgée à l'argon                                                
                                            
                                                Assure une collecte de signal propre tout en maintenant une faible consommation d'argon (~10 L/jour).

                                                
                                                    Suite logicielle EOS®                                                
                                            
                                                Offre un support de bibliothèque d'alliages (UNI, ASTM, DIN), un étalonnage de référence, la génération de certificats, la connectivité réseau et la surveillance à distance.

Spécification	Valeur
Plage spectrale	Env. 170–460 nm (couvre lignes métalliques critiques)
Detecteur	Réseau CCD/CMOS haute résolution
Utilisation d’argon	~10 L/jour (optique purgée à l’argon)
Source d’étincelle	Étincelle pulsée optimisée
Logiciel	EOS® Suite – étalonnage, certification, prêt pour LIMS
Exigences en alimentation	Exigences en alimentation
Dimensions	~60 × 80 × 70 cm (env.)
Poids	Poids