تحليل المعادن مطياف الانبعاث البصري الشراري (Spark OES) المكتبي / الطاولة

سيريوس 500 S6

رقم القطعة: S6
Sirius 500 هو مطياف انبعاث بصري متطور بدرجة مختبرية (OES) مزود بمصفوفة كاشف CMOS عالية الحساسية. يقدم تحليلًا شاملاً للعناصر في المعادن الحديدية وغير الحديدية، مع قدرة استثنائية على كشف العناصر الخفيفة—مثل النيتروجين، الأكسجين، والهيدروجين—داخل مصفوفات المعادن بفضل نطاقه الطيفي الممتد من 119–850 نانومتر. غرفته البصرية المفرغة بالأرجون مع نظام إعادة تدوير ذكي تضمن وضوح الإشارة المثالي، صيانة منخفضة، وكفاءة عالية—مع استهلاك أرجون أقل من 10 لتر/يوم.
تغطية طيفية واسعة
يسمح النطاق 119-850 نانومتر بتحليل العناصر الخفيفة والثقيلة، بما في ذلك N و O و H في مصفوفات مثل Ti و Cu و Co.
كشف عالي الدقة
توفر مصفوفة كاشف CMOS متعددة العناصر لمعانًا ودقة عند ~10 جزء في المليون، وهي مثالية لتحليل التتبع والتركيب السائب.
غرفة مطهرة بالأرجون، دائرية
تقلل إدارة الغاز الفعالة من الاستهلاك وتحافظ على استقرار القياس.
قوي وسهل الاستخدام
مصمم للتحليل السريع في المختبرات الصناعية أو إعدادات الإنتاج، ومبني لسهولة وموثوقية قوية.
برنامج Windows EOS®
يوفر التعرف المبسط على السبائك، والتوحيد القياسي القابل للتخصيص، والتحكم عن بعد، وتوليد الشهادات، وتصدير البيانات.
المواصفة القيمة
النطاق الطيفي 119–850 نانومتر (يغطي العناصر الخفيفة والثقيلة)
نوع الكاشف مصفوفة CMOS عالية السطوع، تغطية متعددة العناصر
استهلاك الأرجون < 10 لتر/يوم (حجرة مفرغة بالأرجون مع تدوير)
البرمجيات برنامج EOS® للتحليل الطيفي (معايرة، سبائك، تصدير، تحكم عن بعد، متعدد المستخدمين)
مزود الطاقة تيار متردد 110–240 فولت، 50/60 هرتز
الأبعاد ~54 سم (عرض) × 127.5 سم (عمق) × 79 سم (ارتفاع)
الوزن حوالي 140 كجم